OpTaliX - 幾何分析能力

點圖：可以顯示點與場，波長和縮放位置的關係，可以疊加或分開顯示。

邊緣光線像差：可以顯示為橫向光線像差或光程差。在一張紙上繪製了多配置（縮放）系統的像差，這提供了一個極好的概覽（無需分別繪製每個位置）。

像散/場曲率：縱向場曲率圖可以很好地描繪出Petzval曲率和像散的校正情況。顯示了光學系統中使用的所有波長。

柵格變形：顯示通過光學系統成像的矩形對象柵格的變形。

漸暈：漸暈圖顯示了機械限製或傾斜光束的阻礙。它減少了圖像中的軸外照明。但是，它在確定離軸圖像質量方面也起着重要作用。

足跡：在選定的表面上繪製光束的使用部分。由於該圖顯示了各個光束的截斷方式，因此通常與漸暈分析結合使用。

次要光譜：近軸焦點的縱向位置與波長的函數關係，此處顯示了合適的複消色差折射透鏡。

透射比與表面：顯示光學系統中每個表面對透射損耗的貢獻。為系統中定義的所有字段繪製。左圖顯示了具有13個透鏡（26個表面）的系統。每個表面對傳輸損耗的貢獻在4％到9％之間（取決於透鏡的折射率）。內透鏡鍍有抗反射塗層，而外透鏡則沒有。

透射率也可以針對波長或場作圖。